TI德州儀器用2000萬小時給出使用氮化鎵（GaN）的理由

在那個雪花漫天飛舞的日子里，我們聚焦于選擇新方法和拓撲，以尋求獲得更高的效率和密度，當然也要找到改進健全性的途徑。一位高級研究員幫助總結(jié)了我們面前的挑戰(zhàn)：“我們能實現(xiàn)所有這些設想。但首先，請給我完美的電源開關?！边@句話里蘊含著的半是沮喪，半是希望。

而在數(shù)年后，堪稱完美的電源開關終于問世。2018年，我們發(fā)布了600-V 氮化鎵(GaN) FET系列產(chǎn)品，包括和，它們具有集成式驅(qū)動器和保護裝置。每件設備都能做到兆赫茲開關和提供數(shù)千瓦功率 - 這實現(xiàn)了前所未有的更小巧和更高效率的設計。

在正式發(fā)布之前，TI投入大量人力物力， 累計進行了超過2000萬小時的設備可靠性測試，使得電源設計工程師可以更放心地在各種電源應用中使用氮化鎵。

高壓電源應用產(chǎn)品業(yè)務部氮化鎵功率器件產(chǎn)品線經(jīng)理 Steve Tom先生展示氮化鎵產(chǎn)品“完美電源開關”的飄然而至

TI始終引領著提倡開發(fā)和實施全面性方法，確保在嚴苛操作環(huán)境下，GaN設備也能夠可靠地運行和具有出色的使用壽命。為此，我們用傳統(tǒng)的硅方法制作GaN的硅基，從而利用硅的內(nèi)在特性。此外，壓力測試需要包括常見于開關電源設備的硬開關工作模式，而這恰恰是傳統(tǒng)硅晶體管無法解決的問題。TI的測試主要集中于以下四個領域：

·設備可靠性：符合設備的工程設計；構(gòu)建設備內(nèi)在的使用壽命。

·應用健全性：在加速環(huán)境下，整合任務剖面條件，模擬真實應用情形。

·制造：專注于生產(chǎn)流程優(yōu)化和產(chǎn)能改進。

·符合電子工程設計發(fā)展聯(lián)合協(xié)會(JEDEC)質(zhì)量要求：通過提速測試設備質(zhì)量和存活能力，來預見產(chǎn)品的低缺陷率和故障率。

制造

應用健全性

GaN設備可靠性

符合JEDEC質(zhì)量要求

2000萬小時設備可靠性測試與計量

此外，2017年是電力電子行業(yè)振奮人心的里程碑之年。 JEDEC宣布制定完成了JC-70.1，它規(guī)范了GaN的可靠性和質(zhì)量認證流程、數(shù)據(jù)資料表、參數(shù)以及測試和特性表征方法。德州儀器公司是JC-70.1標準的創(chuàng)始人與積極倡導者之一，基于2000萬小時的可靠性測試，TI始終致力于幫助整個行業(yè)，進一步從我們提供的方法論、專業(yè)技術(shù)和高科技知識中獲益。

完美的電源開關不再是幾個人在冰冷地下研究室中的奢望。夢已成真。新穎的電源開關使設計人員能夠充分發(fā)揮他們的能力：讓產(chǎn)品達到史無前例的功率密度和效率。

備注：數(shù)據(jù)僅供參考，不作為投資依據(jù)。